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背景資料: 單克隆抗體10 H針對(duì)聚（ADP-核糖）（PAR）。 PAR在核DNA修復(fù)酶聚（ADP-核糖）聚合酶（PARP）活化后合成。 PARP被DNA鏈斷裂選擇性地激活，以催化PAR的長(zhǎng)支鏈添加到各種核蛋白，最明顯的是PARP本身。在DNA損傷條件下，PAR經(jīng)歷快速周轉(zhuǎn)，半衰期在幾分鐘的范圍內(nèi)，因?yàn)镻AR被快速水解并被酶聚（ADP-核糖）糖水解酶（PARG）轉(zhuǎn)化為游離ADP-核糖。在大量DNA損傷后在角質(zhì)形成細(xì)胞中，MAb 10 H已經(jīng)顯示出早在照射后4小時(shí)就檢測(cè)到UVB誘導(dǎo)的細(xì)胞凋亡，因此上級(jí)DNA梯狀和TUNEL測(cè)定。PARP在所謂的執(zhí)行階段被強(qiáng)烈激活。在DNA損傷誘導(dǎo)的細(xì)胞凋亡的情況下，這代表PAR合成的“第二輪”。在細(xì)胞凋亡過(guò)程中合成的PAR似乎非常穩(wěn)定。 PAR免疫熒光至少在細(xì)胞凋亡過(guò)程中出現(xiàn)得與胱天蛋白酶-3對(duì)PARP的特異性裂解一樣早。如幾個(gè)組所示，這種PAR免疫熒光與細(xì)胞凋亡的其他標(biāo)志物很好地相關(guān)。單克隆抗體-聚ADP核糖（10 H）可用于流式細(xì)胞術(shù)，本文報(bào)道了一種用單克隆抗體-聚ADP核糖（10 H）定量檢測(cè)細(xì)胞聚ADP核糖化能力的非同位素免疫斑點(diǎn)印跡方法

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